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產(chǎn)品中心激光控制和光學(xué)測(cè)量相關(guān)偏振測(cè)量?jī)xSI035Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀提供5種型號(hào)，光束直徑范圍從1到50 mm定性地確定光的準(zhǔn)直性磁性不銹鋼珠將剪切板固定在底座上適用的光束直徑刻在剪切板上
產(chǎn)品分類(lèi)
Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
特性
用于相干光束的定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
適合1 mm到50 mm光束直徑的各種選項(xiàng)
分出< 10%光束
磁性耦合可調(diào)設(shè)計(jì)，可快速更換剪切板
英制和公制螺紋安裝孔
輸出端兼容30 mm籠式系統(tǒng)(除了SI500)
下面提供更換的剪切板
下面單獨(dú)提供配件(不兼容SI500)
SIVS放大觀(guān)察屏，用于?1 mm - ?10 mm光束
SITST安裝板，帶SM1 (1.035"-40)內(nèi)螺紋
SICP和SICPSM1轉(zhuǎn)接件，用于兼容30 mm籠式系統(tǒng)
Thorlabs剪切干涉儀設(shè)計(jì)用于定性檢測(cè)相干光束的準(zhǔn)直。它們?yōu)檩o助準(zhǔn)直透鏡的對(duì)準(zhǔn)提供一種快速的方法。剪切干涉儀包含一塊楔形光學(xué)平板，相對(duì)入射光束以45°安裝。光學(xué)平板前后表面的反射重疊在設(shè)備頂部的散射板上。散射板上刻的參考線(xiàn)指示入射光束是否準(zhǔn)直。
楔形光學(xué)平板由未鍍膜的紫外熔融石英制成，透射范圍從185 nm到2.1 µm。如果用于紅外光，需要紅外觀(guān)察儀才能看到散射板上的條紋。每個(gè)平板的楔角針對(duì)可接受光束的直徑范圍(刻在剪切板上)經(jīng)過(guò)優(yōu)化；詳情請(qǐng)看規(guī)格標(biāo)簽。由于光45°角入射在平板上，條紋圖案的強(qiáng)度取決于光的偏振。偏振垂直于入射平面時(shí)產(chǎn)生最大強(qiáng)度。
構(gòu)造
每個(gè)剪切干涉儀包含三個(gè)部分：一個(gè)底座、一個(gè)帶楔形光學(xué)平板的剪切板和一個(gè)帶散射觀(guān)察屏的板。為了搭建干涉儀，可用包含的帶帽螺絲和六角扳手將觀(guān)察屏板安裝再底座上。剪切板通過(guò)磁力固定位置，方便更換帶有不同楔形光學(xué)平板的剪切板。
30 mm籠桿固定在SI254剪切干涉儀的輸出端上
Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
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